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次世代の高度な試験・測定システムへ給電

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半導体自動試験装置 (ATE)

半導体自動試験装置(ATE)の処理能力と稼働率を向上

スループットを上げながらコストを削減

スループットを上げながらコストを削減

半導体自動検査装置(ATE)、計測器、バッテリフォーメーション・テスト(BFT)システムの製造事業者、加速するイノベーションに遅れることなく「テストにかかるコスト」を抑えることは、いっそう難しくなっています。それに加えて、高性能部品のメーカは、高まる需要やエンドユーザーが設定する歩留まり率の上昇に対応するために、懸命に取り組んでいます。

高い電力密度で実現する
最大限のスループットと信頼性

キロワット単位の電力を、手のひらサイズで

写真の3つの小型モジュールは、業界屈指の高電力密度であり、競合のソリューションをはるかに超える最大6kWの電力を扱うことができます。Vicorの画期的な高電力密度のモジュールを使うことで、ATEやBFTのメーカが設計・製造する、大量のデバイスを並べてフォーメーション・テストするシステムのフレキシビリティとスケーラビリティが、現在の占有面積を増やすことなく得られます。同時に装置メーカは、低ノイズで最高の放熱性能を実現するソリューションの提供を受けます。

モジュールで構成する電源システム

高性能電源モジュール

最大で5倍の電力密度の小型電源モジュールを用いることで、設置面積を減らすことができ、機能拡張のためのスペースを確保できます。高効率のモジュールの放熱設計は非常にシンプルにできるため、フレキシブルでスケーラブルに使うことが可能で、設計変更や改版にも簡単に速く対応できます。

電力供給ネットワーク (PDN)

ディスクリート部品を使う複雑なソリューションや、フレキシブルではない「シルバーボックス」の電源システムと異なり、電源モジュールを用いた電力供給ネットワーク (PDN) は、速く簡単に設計・組込むことができます。負荷が増えたり、必要な電力が変わったりする場合に、モジュールの交換や追加で容易に対応できます。

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